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10立方步入式蜜桃视频APP安装下载

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10立方步入式光伏組件濕熱冷凍箱溫度範圍-50~100°C,線性區間85°C~-40°C,帶載>600kg,光伏組件線性升降溫。滿足IEC61215:2016-2地麵光伏組件熱循環試驗標準,濕凍試驗標準。用於確定光伏組件承受由於溫度重複變化而引起的熱失配熱疲勞,以及承受高溫高濕之後的零下溫度影響。
恒溫恒濕實驗箱

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恒溫恒濕實驗箱亦稱“水蜜桃一区一区集免费看、恒溫恒濕機、高溫高濕測試機、高低溫(濕熱)試驗箱”等溫度範圍:-70~150℃(可選:-60~150℃,-40~150℃)升溫速率:1~3℃/min(可定製)降溫速率:1℃/min線性(可定製)濕度範圍:20%R.H~98%R.H
三槽式水蜜桃一区一区集免费看

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R-TH-125LKF三層式水蜜桃一区一区集免费看亦稱“可程序水蜜桃一区一区集免费看、恒溫恒濕箱、恒溫恒濕測試機”等,一般是模擬產品在氣候環境溫濕組合條件下(高低溫操作與儲存、溫度循環、高溫高濕、低溫低濕、結露試驗...等),檢測產品本身的適應能力與特性是否改變。
防爆蜜桃视频APP安装下载

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型號:RK-TLD係列            生產方式:非標定製品牌:RIUKAI                產地:廣東·東莞 內箱容積:可定製               溫度範圍:-40℃~+150℃(低溫可定製:-20℃、-60℃、-70℃等)濕度範圍:20%~98%RH(可選5%~98%RH)本試驗箱采用多種防爆措施,可以避免設備在使用過程中因試品故障導致爆炸、燃燒現象。是防爆蜜桃视频APP安装下载主要用於鋰離子電池、電池組和電池包等產品研發生產的過程中必須經過高溫防爆、低溫耐寒、高低溫貯存、高溫高濕等可靠性試驗的儀器設備。
<i style='color:red'>高溫高濕</i>試驗箱

高溫高濕試驗箱

品牌:RIUKAI/水蜜桃视频下载儀器產地:廣東·東莞內箱尺寸(可選):100L/150L/225L/408L/800L/1000L(按用戶需求定製)溫度範圍(可選):低溫-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃、常溫;高溫+150℃、+100℃、+80℃濕度範圍(可選):5%R.H~98%R.H、10%R.H~98%R.H或20%R.H~98%R.H適用於電子元器件、橡膠、塑料、高分子材料、電器、食品、車輛、金屬、化學、建材等。
HAST高壓加速老化試驗箱

HAST高壓加速老化試驗箱

可按需定製溫度範圍:A(105℃~132℃);B(105℃~142.9℃);C(105℃~155℃)可選壓力範圍:A(壓力表+0.2~2.0kg/cm);B(壓力表+0.2~3.0kg/cm);C(壓力表+0.2~3.5kg/cm)濕度範圍:65%~100%R.H(可調)濕度波動度:非飽和控製:±2.5%R.H、濕潤飽和控製:100%R.HHAST高壓加速老化試驗箱是在非飽和濕度(65%~100%RH可調)、溫度、壓力等條件下,檢測產品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設備。
功率半導體器件利用高低溫濕熱試驗箱做穩態濕熱高壓偏置試驗

功率半導體器件利用高低溫濕熱試驗箱做穩態濕熱高壓偏置試驗

功率半導體器件穩態濕熱高壓偏置試驗方法,用以評價非氣密封裝的功率半導體器件在高溫高濕環境下耐受高電壓的可靠性。不但適用於矽功率器件,也適用於碳化矽及氮化家功率器件。
塑封半導體器件THB試驗

塑封半導體器件THB試驗

THB試驗是考核塑封器件耐濕性常用的加速試驗方法,一般在高溫高濕試驗箱中進行。通過提高環境溫度及相對濕度,使試驗環境的水汽分壓增加,加大了試驗環境與塑封半導體器件樣品內部的水蒸氣壓力差,進而加劇水汽擴散和吸收:同時施加偏置電壓為加速金屬侵蝕提供了必要的電解電池。加速金屬侵蝕的原因還有:塑封器件所用不同材料的熱失配使封裝體內產生縫隙加速水汽的侵入;封裝材料中的雜質汙染等。
HAST高加速應力測試

HAST高加速應力測試

原理:試樣在高溫高濕度以及偏壓的苛刻環境下,加速濕氣穿過外部的保護層,或沿著金屬和外保護層的分界麵穿透,造成試樣的失效。設備物料:1.控製的環境:需要在上升至特定的測試環境或從特定的環境下降時,保證壓力、溫度和相對濕度的HAST試驗箱;2.溫度曲線記錄:需要記錄每個測試循環的溫度曲線,以保證能核實壓力的有效性;3.試樣必須位於溫度梯度小處,離內壁至少3cm,不能接觸到熱源的直接輻射加熱;
<i style='color:red'>高溫高濕</i>環境下光伏組件封裝材料的選型

高溫高濕環境下光伏組件封裝材料的選型

a)采用0水透的背板(含鋁背板,雙玻)可以有效的防止高濕環境下組件的失效;b)采用較低水透的背板,搭配低VA含量的EVA,可以延緩組件在高濕環境下的衰減;c)需要開發新型背板,能透水同時也能使得醋酸及時釋放,同樣可以有效的防止高濕環境下組件的失效。d)雙85測試可以有效的評估組件能否在高濕環境下運行25年。

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