芯片（IC）可靠性測試好幫手——水蜜桃视频下载儀器HAST試驗箱係列

芯片是電子信息產品重要的元器件，是高端製造業的是核心基石！幾乎每種電子設備，電腦、手機、家電、汽車、高鐵、電網、醫療儀器、機器人、工業控製等都使用芯片。水蜜桃视频下载HAST試驗箱主要應用於芯片、半導體器件、金屬材料領域，通過爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因汙染造成之短路等相關問題。

電子設備熱循環加速可靠性試驗策劃

加速可靠性試驗是使用相同的損傷機理，比產品使用所需更短的時間去激發失效或累積損傷。加速方法主要包括增加壽命控製變量的量級和增加頻次兩類。關鍵要理解加速試驗和被加速的實際使用環境之間的關係，基於適合的損傷、失效機理和服務環境來選擇試驗類型和試驗條件。

電子設備熱循環失效機理

熱循環導致焊點合金內部產生熱應力-應變循環，同時引發焊點金屬學組織的演化（晶粒組織變粗糙）。力學和金屬學因素的共同作用，導致宏觀表象為焊點裂紋的萌生與擴展，引起電信號傳輸失真的失效現象。隨著疲勞損傷累積，焊點的疲勞壽命消耗大約25%到50%之後，在晶粒交界處形成微孔洞，這些微孔洞增長形成微裂紋，進一步增長並聚集成大裂紋。

電子元器件老煉篩選方法

元器件是電子設備和係統的基本單元，為提高係統的可靠性，必須保證元器件的可靠性，元器件失效率隨時間變化的過程可以用“浴盤曲線”（圖1）描述，早期的失效率隨時間的增加而迅速下降，使用壽命期內失效率基本不變，老煉篩選過程就是通過對元器件進行100%的非破壞性篩選試驗，剔除具有潛在缺陷的早期失效產品，使其盡快度過浴盆曲線的早期失效階段，將失效率降低到可接受水平，同時剔除失效的元器件。

5G蓄勢待發，水蜜桃视频下载儀器HAST試驗箱助力電子器件行業提升品質

在電子設備輕薄化、微型化、可折迭化的趨勢下，電子器件的需求日益旺盛，其測試要求、品質要求也在不斷的提高，在5G來臨的時代，水蜜桃视频下载儀器也順勢推出HAST試驗箱。

軍工品環境可靠性試驗測試標準詳情介紹

艦船電子設備環境試驗低溫貯存試驗GJB4.4-1983艦船電子設備環境試驗低溫試驗GJB4.3-1983軍用電子測試設備通用規範GJB3947A-2009軍用計算機通用規範GJB322A-1998軍用通信設備通用規範GJB367A－2001軍用裝備實驗室環境試驗方法第4部分：低溫試驗GJB150.4A-2009

艦船電子設備可靠性環境試驗順序的確定

可靠性環境試驗項目確定後，按照什麽順序進行試驗，GJB150-1986、GJB150A-2009和GJB4-1983三項標準中均有一定的規定。

可靠性環境試驗項目的選擇

艦船裝備的環境試驗基本上是在實驗室進行，實驗室試驗具有重複性、可再現性。目前，常用的環境試驗軍用標準有GJB150-1986《軍用設備環境試驗方法》、GJB150A-2009《軍用裝備實驗室環境試驗方法》和GJB4-1983《艦船電子設備環境試驗》等。

ESS試驗溫度循環次數確定方法研究

目前，電子裝備環境應力篩選主要依據GJB1032-1990《電子產品環境應力篩選方法》，但由於該標準的頒發時間較早，隨著科技的發展和進步，對電子設備可靠性指標要求也越來也高，循環次數選取是一個值得探討的問題。

電子產品滿載高低溫老化試驗方法

各種電子設備都是有工作環境溫度的要求，所以水蜜桃视频下载要模擬環境高低極限溫度做滿載老化試驗，以保證電源能在環境溫度下正常工作。如電源板單獨做測試，就要監控它的紋波輸出電壓。如果整機測試，就要看它各各輸出端口的性能指標及是否能正常開關機。