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<i style='color:red'>芯片可靠性測試</i>之HAST高壓加速老化測試

芯片可靠性測試之HAST高壓加速老化測試

測試隻占芯片各個環節的5%,看似是“便宜”的,在每家公司都喊著“降低成本”的時候,人力成本不斷的攀升,晶圓廠和封裝廠都在乙方市場中叱吒風雲,似乎隻有測試這一環節沒有那麽難啃,於是“降低成本”的算盤就落在了測試的頭上了。
晶圓級<i style='color:red'>芯片可靠性測試</i>後高電阻值異常如何詢失效點?

晶圓級芯片可靠性測試後高電阻值異常如何詢失效點?

所謂的WLCSP晶圓級芯片尺寸封裝,全名WaferLevelChipScalePackaging,是指,直接將整片晶圓級封裝製程完後,再進行切割,切完後封裝體的尺寸等於原來晶粒的大小,後續利用重分布層(RDL),可直接將I/O拉出陣列錫球與PCB做連接。

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