10立方步入式光伏組件濕熱冷凍箱溫度範圍-50~100°C，線性區間85°C~-40°C，帶載＞600kg，光伏組件線性升降溫。滿足IEC61215:2016-2地麵光伏組件熱循環試驗標準，濕凍試驗標準。用於確定光伏組件承受由於溫度重複變化而引起的熱失配熱疲勞，以及承受高溫高濕之後的零下溫度影響。

本設備廣泛用於IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。滿足試驗標準：GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等

光伏組件濕凍循環試驗箱標準機型有：100L、150L、225L、408L、800L、1000L的內箱尺寸；備注：50L~100L及1000L以上是非標定製產品，具體規格參數以方案書為準。低溫可選：-80℃、-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃和常溫；高溫可選：+150℃、+180℃、+200℃；濕度範圍有：20%~98%RH（非標可選：5%~~98%RH、10%~98%RH）光伏組件濕凍循環試驗箱是主要用與光伏行業，及太陽能行業的必備測試設備，用於測試光伏組件，主要是單晶矽組件，地麵用晶體矽光伏組件，地麵用薄膜光伏組件等一係列的光伏組件進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環境變化後的參數及性能；

TCT溫度循環測試箱標準機型有：100L、150L、225L、408L、800L、1000L的內箱尺寸；備注：50L~100L及1000L以上是非標定製產品，具體規格參數以方案書為準。低溫可選：-80℃、-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃和常溫；高溫可選：+150℃、+180℃、+200℃；濕度範圍有：20%~98%RH（非標可選：5%~~98%RH、10%~98%RH）TCT溫度循環測試箱適合電子元器件，半導體IC、芯片、光伏組件，電器，食品，車輛，金屬，化學，建材等工廠，科研單位，院校之用。

內箱容積（圓桶）：￠300×D450、￠400×D550溫度範圍：+110～+132℃、+110℃～+147℃壓力範圍：壓力表+0.2～2.0kg/cm²、壓力表+0.2～3.0kg/cm²、壓力表+0.3～3.5kg/cm²濕度範圍：65%～100%R.H(可調)適用範圍：本設備廣泛用於IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。

a)采用0水透的背板（含鋁背板，雙玻）可以有效的防止高濕環境下組件的失效；b)采用較低水透的背板，搭配低VA含量的EVA，可以延緩組件在高濕環境下的衰減；c)需要開發新型背板，能透水同時也能使得醋酸及時釋放，同樣可以有效的防止高濕環境下組件的失效。d)雙85測試可以有效的評估組件能否在高濕環境下運行25年。

光伏組件PID測試是指在高溫高濕環境下（85℃和85%RH）給組件內部帶電體與邊框之間施加等於組件係統額定電壓（±1000V或±1500V）的電壓偏差，當內部光伏電路相對於地麵為負偏壓時，框架和電池之間的電壓可導致玻璃中的鈉離子向電池表麵漂移，電池表麵通常具有氮化矽（SiN）抗反射塗層，如果這個塗層上的縫隙足夠大，允許鈉離子進入電池或電荷流向玻璃，形成的漏電流就會通過邊框或安裝支架流入大地，從而出現PID效應。

雙85高溫高濕試驗是光伏行業，及太陽能行業的必備測試項目，用於測試光伏組件，包括單晶矽組件，地麵用晶體矽光伏組件，地麵用薄膜光伏組件等一係列的光伏組件，在高溫85℃、高濕85%RH環境下的運行，並可以再現環境所產生的破壞。

光伏(PV)組件是用於在其生命周期內連續戶外暴露的電氣設備。在一些特殊的地理條件下，如：鹽堿地、沿海等地，強腐蝕性的潮濕大氣，終可能導致光伏組件金屬部件的腐蝕和一些非金屬材料的性能惡化，影響其安全性能及輸出功率。

隨著生產工藝的逐步提高，IEC61215所測試的量已不足以考驗組件的耐候性，也無法模擬或探索出組件在戶外實際所經受的失效形式。根據TÜV的分析，熱斑測試、濕凍測試、濕熱測試這3種測試的失效率，